SLJ-1雙棱鏡干涉實驗儀$n導軌：鋁制導軌，長1000mm$n光源：半導體激光器，鈉燈或白光光源可選$n狹縫：0-2mm可調，帶二維調節(jié)$n測微目鏡：放大率15倍，測量范圍8cm$n像屏：白色像屏

WPZ-III塞曼效應實驗儀（智能型） 1、永磁鐵 磁感應強度B＞1.0T，以實際測定為準 2、F-P標準具 通光口徑φ40mm 空氣隙石英間隙2 mm 中心波長546.1nm. 分辨能力λ/ dλ≥2×105 高反射帶寬100nm 3、干涉濾光片 中心波長546.1 nm 透射帶寬≤10 nm 峰值透過率≥55%

WGZ-IIA光強分布測定儀 單縫、單絲、雙縫、多縫等衍射、干涉圖形的一維光強分布測定；小孔、小屏、矩孔、雙孔、光柵和正交光柵等的衍射、干涉現象演示實驗；偏振光實驗光強變化的測定；驗證馬呂斯定律.1.導軌長度:1000mm .2.半導體激光器:配置精密二維調整架，波長635nm，功率3mv.

JCD3讀數顯微鏡$n產品簡介$n可作長度測量，也可作觀察使用。可置水平和垂直位置，能搭成各種測試裝置。$n產品配置$n主要技術指標要求：1、顯微鏡放大倍率為30倍，工作距離54.06mm，視場直徑4.8mm；2、測量范圍：縱向50mm，ZUI小讀數0.01mm,升降方向40mm，ZUI小讀數0.01mm；

WSM100/200邁克爾遜干涉儀 產品簡介 觀察光的干涉現象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋），測定單色光波長，測定光源和濾光片相干長度、配法布里─珀羅系統(tǒng)觀察多光束干涉現象 產品配置 1、移動鏡行程：WSM─100型 100mm WSM─200型 200mm 2、微動手輪分度值： 0.0001mm